粗晶奧氏體不銹鋼焊縫相控陣檢測討論
轉(zhuǎn)自:圖邁檢測技術(shù)
焊縫是工業(yè)中最常見的一種結(jié)構(gòu)形勢(shì),廣泛存在各類制造和生產(chǎn)領(lǐng)域。焊縫的焊接質(zhì)量是保證焊接結(jié)構(gòu)性能的關(guān)鍵,對(duì)于使用性能要求較高的焊縫,常使用先進(jìn)無損檢測技術(shù)為焊縫質(zhì)量進(jìn)行把關(guān)。超聲波檢測技術(shù)作為焊縫檢測最可靠的手段之一,近些年被大量研究和應(yīng)用。經(jīng)歷了從常規(guī)超聲,相控陣超聲再到全聚焦相控陣超聲檢測技術(shù)的發(fā)展過程。然而超聲波檢測技術(shù)在面對(duì)奧氏體不銹鋼焊縫時(shí)卻顯得困難重重,主要源自于奧氏體不銹鋼的晶粒粗大對(duì)超聲波能量造成較大衰減以及散射,同時(shí)其各向異性的特殊性造成了超聲波的聲速與入射角度密切相關(guān),且縱波與橫波的表現(xiàn)形式也各有不同。這些都極大增加了超聲波檢測工藝的設(shè)計(jì)難度,同時(shí)所獲得數(shù)據(jù)的可信度也不夠高。但隨著超聲成像技術(shù)的不斷發(fā)展進(jìn)步,可以嘗試?yán)靡恍┬碌某上窆に噥慝@得一些效果的提升。
近年來全聚焦相控陣檢測技術(shù)受到業(yè)內(nèi)越來越多的研究與實(shí)踐,得益于其更高的成像質(zhì)量與靈活的模式選擇,全聚焦相控陣技術(shù)在缺陷定量定性上有著明顯優(yōu)勢(shì)。根據(jù)不同的數(shù)據(jù)采集以及處理方式,全聚焦技術(shù)可分類為:FMC-TFM,PWI-TFM,F(xiàn)MC-PCI,PWI-PCI等。我們可以嘗試將這些在碳鋼焊縫檢測上已經(jīng)獲得了較好應(yīng)用效果的全聚焦技術(shù)應(yīng)用到奧氏體不銹鋼焊縫檢測中,評(píng)價(jià)它們?cè)诖祟惔志Р馁|(zhì)焊縫(包括不銹鋼對(duì)接焊縫、異種鋼對(duì)接焊縫以及CRA熔覆金屬對(duì)接焊縫)的應(yīng)用中是否能比常規(guī)檢測手段獲得更好的測試結(jié)果。本章節(jié)內(nèi)容將重點(diǎn)討論利用DMA探頭在異種鋼焊縫與奧氏體不銹鋼焊縫上對(duì)比常規(guī)扇掃,PWI和FMC全聚焦技術(shù),以及PCI相位成像技術(shù)的結(jié)果,同時(shí)從技術(shù)原理上評(píng)價(jià)不同技術(shù)在粗晶材料檢測中的適應(yīng)性。
常規(guī)超聲檢測和相控陣檢測粗晶焊縫主要存在的難點(diǎn)如下:
晶粒粗大:與碳鋼焊縫相比,粗晶焊縫晶粒最 大可達(dá)幾個(gè)mm,粗大晶粒必然導(dǎo)致能量的高衰減,回波背景噪聲大,缺陷回波信噪比低。為了提升信噪比,通常需要降低探頭頻率,并提高激勵(lì)孔徑。降低探頭頻率的后果便是能量聚焦在相對(duì)較深位置變得更加困難,而增加探頭的激勵(lì)孔徑在相控陣工藝中必然會(huì)增加通道數(shù)量,否則如果晶片尺寸相對(duì)波長過大將會(huì)產(chǎn)生一些旁瓣從而產(chǎn)生對(duì)檢測結(jié)果的影響。探頭以及楔塊的設(shè)計(jì)在此類應(yīng)用中顯得非常重要。
各向異性:在一個(gè)各向異性材料中,超聲檢測聲束入射角度與材料晶粒取向相對(duì)角度會(huì)直接影響不同模態(tài)下的聲速。而在一個(gè)常見的不銹鋼管對(duì)接焊縫中,其晶粒的取向通常是從焊縫兩側(cè)由外向內(nèi)連續(xù)變化的,這對(duì)焊縫區(qū)域超聲定位造成了極大的難度,且在檢測工藝設(shè)計(jì)上也比較受限。在各向異性材料中,縱波所受的影響相對(duì)較小,而橫波受到影響巨大(見圖1),所以奧氏體不銹鋼焊縫檢測中通常選用縱波檢測方法作為首選工藝。并且在同樣工作頻率下縱波波長相對(duì)橫波更長,受到晶粒影響衰減的程度也相較更低。但是縱波斜探頭檢測有很大的弊端。首 先無法利用二次波進(jìn)行成像(二次波聲程可能會(huì)與橫波一次聲程混淆,從而無法判斷其回波來源性質(zhì)),從而使得上表面區(qū)域成為檢測盲區(qū);其次縱波檢測還可能更容易出現(xiàn)波形轉(zhuǎn)換,這些波形轉(zhuǎn)換后的回波被記錄后,對(duì)數(shù)據(jù)分析工作帶來了更大的難度。
為解決上述問題,常規(guī)超聲檢測采用低頻雙晶縱波探頭 (TRL) 檢測粗晶焊縫,它具有如下優(yōu)點(diǎn):
· 減少近表面盲區(qū);不同聲程路徑的入射與接收信號(hào)的卷積,能有效降低晶粒反射造成的干擾,可提高檢測信噪比;
· 可消除縱波楔塊的干擾,縱波斜楔塊多次回波通常容易出現(xiàn)在檢測區(qū)域的聲程內(nèi)部。
使用這類檢測方式,最早可追溯到1980年代,現(xiàn)在已經(jīng)在全球類似應(yīng)用中廣泛使用。相控陣技術(shù)在此檢測技術(shù)上利用其聚焦偏轉(zhuǎn)的優(yōu)勢(shì)進(jìn)行了技術(shù)升級(jí),通常是將每個(gè)探頭替換為線陣或者面陣,組成了雙線陣(DLA)或者雙面陣(DMA)探頭。可控制聲束在檢測區(qū)域內(nèi)部進(jìn)行三維體積掃描與能量聚焦。如此可以降低上表面的檢測盲區(qū),多角度覆蓋可提升檢測效率并提高檢出率,并可以更有效地對(duì)焊縫區(qū)域進(jìn)行聚焦。至于DLA與DMA之間的區(qū)別主要是根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行選擇利用。DLA采用線陣探頭作為組成單元,可以在有限的通道數(shù)前提下獲得更大的孔徑布置,從而使探頭的檢測范圍更大,但是線陣探頭的聚焦點(diǎn)分布在一個(gè)面上,讓左右兩個(gè)線陣探頭的焦點(diǎn)分布在焊縫中心對(duì)楔塊的設(shè)計(jì)難度較大,通常需要借助特殊工具的支持。DMA探頭則可以通過三維聲束擺動(dòng)與聚焦較容易實(shí)現(xiàn)焊縫區(qū)域聲束的聚焦,探頭設(shè)計(jì)的難點(diǎn)轉(zhuǎn)為晶片主動(dòng)孔徑與被動(dòng)孔徑數(shù)量與尺寸選擇,從而保證在被檢測工件整個(gè)厚度的良好聚焦。同時(shí)晶片尺寸的選擇對(duì)設(shè)計(jì)的最 大偏轉(zhuǎn)角度下不會(huì)產(chǎn)生柵瓣或旁瓣的影響。
Eddyfi作為全球先進(jìn)無損檢測引領(lǐng)者,旗下?lián)碛袃蓚€(gè)相控陣品牌M2M&ZETEC。其各自品牌的設(shè)備和探頭在全球范圍內(nèi)的粗晶焊縫相控陣檢測領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,并深受好評(píng)。如ZETEC的TOPAZ在全球范圍內(nèi)的核電異種鋼管道中的應(yīng)用等。
案例分析
案例一:如下是GEKKO使用DMA探頭檢測100mm異種鋼(核電容器安全端接口焊縫,成分為:碳鋼-奧氏體不銹鋼-鎳基堆焊層)對(duì)接焊縫試塊橫通孔SDH 2mm檢測結(jié)果。
1. 探頭在不銹鋼側(cè)檢測
結(jié)論:
· 從不銹鋼一側(cè)檢測,各類檢測方法均可檢測試塊上的20-80mm4個(gè)SDH橫通孔
· PWI有更高的靈敏度余量
· PCI對(duì)小缺陷敏感,晶粒信號(hào)可能導(dǎo)致誤判
· 最淺的5mm深孔可以通過縮小探頭前端距,或者增大楔塊出射角度的方式檢測,但會(huì)損失80mm深孔的檢測能力
2. 向前移動(dòng)探頭前端距后檢測效果如下:
結(jié)論:
· 從不銹鋼一側(cè)檢測,PA,F(xiàn)MC-TFM,PWI-TFM均可檢測到5-60mm4個(gè)SDH橫通孔;
· 兩種PCI方法均不能在縮小前端距的條件下檢測出5mm深的橫通孔
· PWI入射能量更強(qiáng),可獲得有更高的靈敏度余量;
· PCI對(duì)小的缺陷較敏感,晶粒信號(hào)可能導(dǎo)致誤判;
· 最深的80mm橫通孔由于探頭前端距和楔塊角度問題,不能檢出,考慮制作較小角度楔塊進(jìn)行進(jìn)一步評(píng)估;
· 異種鋼焊縫屬于檢測難度較大的對(duì)象,實(shí)驗(yàn)中使用的探頭頻率為2.25Mhz,如果將探頭擺放在鎳基堆焊層一側(cè)進(jìn)行檢測,將較難在穿透鎳基堆焊層后獲得較良好的檢測結(jié)果,后期將設(shè)計(jì)采用頻率更低(1Mhz)的雙面陣探頭對(duì)此焊縫進(jìn)行更多試驗(yàn)。
案例二: 使用相同的DMA探頭檢測90mm奧氏體不銹鋼對(duì)接焊縫試塊,橫通孔SDH 2mm。試塊上的橫通孔排布如下:
橫通孔分別位于兩側(cè)焊縫熔合線上??咨顬?/span>10mm,30mm,50mm,70mm,80mm。
在整個(gè)焊縫深度范圍內(nèi),穿過焊縫后橫通孔變形較小,可說明該探頭在整個(gè)深度范圍有較好的聚焦能力。
除上述DMA檢測探頭現(xiàn)象外,在奧氏體對(duì)接焊縫測試中,還具有如下特征:
· PAUT檢測不銹鋼焊縫,兩側(cè)坡口上的橫通孔均可檢出
· PWI- PCI丟失10mm深橫通孔
· PWI- PCI更易于檢測小缺陷
對(duì)于不同材料及厚度的粗晶奧氏體不銹鋼或異種鋼焊縫,EDDYFI推薦使用如下探頭進(jìn)行檢測。
綜述:
· DMA探頭檢測更具信噪比優(yōu)勢(shì),但是對(duì)儀器通道數(shù)要求更高;
· 全聚焦技術(shù)應(yīng)用中,PWI技術(shù)相對(duì)FMC采集技術(shù)檢測靈敏度更高,信噪比更好;
· PCI技術(shù)有利于發(fā)現(xiàn)小缺陷,也易與晶粒噪聲混淆;對(duì)大角度的反射體檢出率不高;
· 不銹鋼一側(cè)檢測難度低,因?yàn)樵谀覆闹芯ЯH∠蛞?guī)則;然而當(dāng)聲束穿過堆焊層或穿透焊縫金屬檢測難度顯著提高,焊縫區(qū)域的晶粒取向連續(xù)變化;
· 為提高近表面的檢測能力,可采用更大角度楔塊;
· DMA探頭+PWI/TFM技術(shù),檢測厚度覆蓋范圍更大,可顯著減少大壁厚粗晶粒焊縫檢測次數(shù),大幅提高檢測效率。
Eddyfi 提供多元化的無損檢測儀器、探頭、軟件和機(jī)器人解決方案組合,用于檢查航空航天、石油和天然氣、國防和發(fā)電等行業(yè)的關(guān)鍵資產(chǎn)。Eddyfi 為 110 多個(gè)國家的客戶提供服務(wù)。其總部位于魁北克(加拿大),擁有 1000 多名員工,并在全球擁有 13 個(gè)卓越中心和銷售辦事處,所有員工均由 NDT 專家組成。
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